紫外可見分光光度計的波長定位原理與實現

在理化分析中zui常用到的儀器就是分光光度計，這種儀器的基本原理主要是建立在與光和物質相互作用的基礎上，當某一溶液當中其吸收的輻射的物質分子與光子發(fā)生碰撞的時候，也就會產生一種吸收，對于其吸光度值的大小進行測量可以有效的對某種物質存在的量的多少進行反應。本研究基于此，主要分析紫外可見分光光度計在其使用過程中波長定位問題，希望所得的結果能夠為相關領域提供有價值的參考。

紫外可見分光光度計是通過測定被測物質在特定波長處或一定波長范圍內光的吸收度，對物質進行定性和定量分析的儀器。在生物制藥、精細化工、環(huán)境監(jiān)測等領域有著廣泛應用，并被納入《中華人民共和國強制檢定的工作計量器具明細目錄》，需要根據檢定規(guī)程定期檢定。文章再次探討紫外可見分光光度計的波長定位原理與實現.

1 紫外可見分光光度計

1.1 紫外可見光光度計結構、特點

紫外可見光光度計是一種常規(guī)分析儀器，充分利用紫外可見光度法原理。以光路設計為基礎，紫外可見分光光度計可以分為不同的類型，比如，雙波長分光光度計、單光束分光光度計。就其結構來說，紫外可見光光度計是由多種元素組成，比如，輻射源、單色器、檢測器。比如，輻射源在應用過程中，它必須具備特殊性質的連續(xù)光譜，比如，較強的穩(wěn)定性，充足的輸出功率。比如，試樣容器。它又被叫做吸收池，主要為那些盛放試液提供條件，進行吸光度測量。玻璃池、石英池是其核心組成元素，石英池主要用于紫外到可見區(qū)，而玻璃池只能用于可見區(qū)方面。一般來說，容器的光程需要在0.5-10cm之間。又比如，顯示裝置。顯示裝置的發(fā)展速度非常快，其中的熒光屏顯示、記錄儀器等能夠把數據、圖譜等充分顯示出來。同時，紫外可見光光度計具有多樣化的特點。首先，它具有較高的靈敏度、較好的選擇性、使用范圍非常廣泛。

1.2 紫外可見分光光度計應用范圍

從某個側面來說，紫外可見分光度計的應用范圍非常廣泛，比如，定量分析、定性于結構分析。一是：定量分析。

在定量分析方面，紫外可見光光度計主要用于各種物料中，比如，微量、超微量的準確測定。二是：反應動力學研究方面。在這方面，紫外可見光光度計主要是對其中的反應物具有的濃度進行研究。在時間不斷變化情況下，對應的函數關系。以此為基礎，對其反應速度、反應級數、反應原理進行的測定。三是：定性與結構分析方面。主要是因為紫外可見光光度計還可以應用到這些方面，比如，互動異構、幾何異構現象推斷方面，具有很高的準確率。

2 .波長示值誤差項目檢定中需注意的問題

波長示值誤差是一項重要指標，規(guī)程中對該項指標的檢測，給出了多種標準物質進行選擇。選擇哪一種標準物質，要根據儀器的情況。一般zui常用的波長標準物質是氧化鈥玻璃濾光片、鐠釹玻璃濾光片。因其使用zui方便（不用打開儀器光源部分），汞燈等波長標準需放到光源部分，操作起來相對麻煩。但由于氧化鈥玻璃等濾光片需要通過高等級紫外可見分光光度計對參考波長定值后才可用于對相對等級較低的儀器進行檢測，所以使用時需充分考慮定值時使用的紫外可見分光光度計的性能，尤其需要考慮到儀器的光譜帶寬，定值用儀器的光譜帶寬多設定為 2nm。但大多數儀器的光譜帶寬是固定的，而且較大，尤其是低檔儀器，如752型紫外可見分光光度計光譜帶寬為 4nm。同一臺紫外可見分光光度計在其他條件不變下，光譜帶寬分別設定為 0.5nm、2.0nm、5.0nm 時使用氧化鈥玻璃和鐠釹濾光片掃描得到的峰值數據，可見當儀器的光譜帶寬發(fā)生變化時，使用氧化鈥玻璃或

鐠釹玻璃濾光片檢測得到的波長誤差存在著較大的差異，對于光譜帶寬較大的儀器甚至部分波峰檢測不到。而且對于具備自動掃描功能的儀器，掃描速度同樣對檢測結果有著不可忽視的影響。

3 .紫外-可見分光光度計測量誤差超差的調修

3.1 波長示值誤差超差的調修

如果紫外-可見分光光度計的波長示值誤差超出規(guī)程規(guī)定的范圍必須進行調修，調修后再次經檢定合格后方能使用.

常見的波長示值誤差超差的情況可以分為兩種：線性誤差。線性誤差的特點是儀器三個波長段的波長誤差偏向同一方向且數值相近。調修方法為：首先將波長調節(jié)至580nm處，然后在樣品池光路中放置一張白紙查看單色光的顏色，若不是橙黃色需調節(jié)波長使白紙上的單色光成為橙黃色且邊緣清晰和無雜色。接著將波長刻度盤的螺母擰松并旋轉至 580nm.再使用濾光片或標準溶液檢定波長誤差，為了進一步縮小波長誤差可再次擰松刻度盤螺母使刻度盤向相反方向旋轉相同

誤差的刻度，直至調節(jié)到合格范圍之內。非線性誤差。非線性誤差的特點是儀器三個波段的波長誤差有正有負。調修時需首先將儀器中間波段的波長利用上述方法調為準確，然后根據偏移情況進行調節(jié)：對于低端為正差和為負差的現象可順時針調節(jié)準直螺母；對于低端為負差和為正差的現象可逆時針調節(jié)準直螺母。

3.2 基線平直度超差的調修

基線平直度超差的原因通常有：濾光片或其它光學元件被灰塵、水珠或者霉斑污染發(fā)生散射現象造成，對光學元件進行清理后問題可以得到解決。濾光片安裝不牢固或者不正確，波長調整時易產生較大噪聲，應對濾光片的安裝進行檢查。鎢燈與氘燈切換時基線發(fā)生較大的跳動說明光源的切換存在問題，應檢查光源的切換是否存在問題。儀器使用時間太長光電轉換器和放大器易發(fā)生老化，更換后可以降低基線

平直度誤差。電壓不穩(wěn)或電磁干擾也會對基線平直度造成較

大的影響，電壓不穩(wěn)的實驗室應加裝穩(wěn)壓器。

在新時代下，很多新技術、新材料會逐漸應用到紫外可見分光光度計，使其更加完善，擁有更多的性能，具有更好的應用價值，在更多的領域中發(fā)揮自身的作用。從長遠來說，它具有很好的發(fā)展前景，必定會走上可持續(xù)發(fā)展道路。